Быстрая диагностика повреждений микросхем с помощью ультразвуковых волн
Введение в методы диагностики микросхем Диагностика микросхем является ключевым этапом в производстве и техническом обслуживании электроники. Выявление внутренних повреждений и дефектов на ранних стадиях позволяет предотвратить выход из строя устройств, повысить надежность и продлить срок их эксплуатации. Традиционные методы диагностики включают визуальный осмотр, тестирование электрических параметров и использование рентгеновской томографии. Однако эти методы часто требуют […]